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유니테스트(086390), 특허취득(순차적 반도체 테스트 장치...)게시글 내용
공시일자 | 특허명칭 | 공시당일 등락률 |
금일공시 | 순차적 반도체 테스트 장치 | 0.0% |
08.05.07 | 순차적 반도체 테스트 장치 | -1.08% |
08.01.21 | 프로브 카드의 프로브 빔을 리페어하기 위한 프로브 빔몰드 및 이를 이용한 프로브 리페어 시스템 | -1.56% |
08.01.14 | 프로브 카드의 프로브 구조물 제조 방법 | +1.41% |
08.01.14 | 프로브 카드의 범프 형성 방법 | +1.41% |
08.01.14 | 프로브 카드의 캔틸레버 구조물 제조 방법 | -1.41% |
08.01.14 | 프로브 카드의 프로브 구조물 제조 방법 | -1.41% |
08.01.07 | 반도체 소자 테스터 구성 장치 | -2.15% |
08.01.07 | 반도체 소자 테스터 제어 장치 | -2.15% |
08.01.03 | 그래픽 메모리 테스터 | -1.26% |
07.10.30 | 반도체 테스트 인터페이스 및 이를 이용한 반도체 테스트장치 | +7.6% |
07.10.23 | 메모리 소자 테스트를 위한 알고리즘 패턴 생성기 및 이를이용한 메모리 테스터(AN ALGORITHM PATTERN GENERATOR FOR TESTINGMEMORYDEVICE AND A MEMORY TESTER USING THEREOF) | +1.01% |
07.10.01 | 반도체 테스트 인터페이스(SEMICONDUCTOR TEST INTERFACE) | +4.07% |
07.09.12 | 깊게 파진 트렌치를 구비하는 프로브 카드 및그 제조방법(PROBE CARD WITH DEEPLY RECESSED TRENCH ANDMETHODMANUFACTURING THEREOF) | 0.0% |
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